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详细介绍
MD-1型粉尘粒度分析
一、产品介绍
本产品采用斯托克斯原理和比尔定律进行分析检测，能准确测定粉尘粒度分布。读数直观，测定结果自动储存，也可由用户根据需要选择，把结果通过显示屏或打印机输出。仪器具有掉电保护功能，可储存粒度分布数据。
主要用于实验室测定粉尘粒度分布。
二、产品参数
（1）粉尘粒度分布测定范围：0～150µm。测定粉尘累积质量筛上分布，粉尘粒度分级为
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）测定误差：d＜40µm时，粉尘粒度分布重复测定误差≤10%；
（3）工作电源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。
三、产品特点
（1）采用斯托克斯原理和比尔定律进行分析检测，能准确测定粉尘粒度分布。
（2）读数直观，测定结果自动储存，也可由用户根据需要选择，把结果通过显示屏或打印机输出。
（3）仪器具有掉电保护功能，可储存粒度分布数据。
1.显微镜法(Microscopy)
SEM、TEM；1nm～5μｍ范围。
适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)
沉降法的原理是基于颗粒在悬浮体系时，颗粒本身重力(或所受离心力)、所受浮力和黏滞阻力三者平衡，并且黏滞力服从斯托克斯定律来实施测定的，此时颗粒在悬浮体系中以恒定速度沉降，且沉降速度与粒度大小的平方成正比。10nm～20μｍ的颗粒。
MD-1型粉尘粒度分析仪
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